半導體集成電路CMOS電路檢測
健明迪檢測提供的半導體集成電路CMOS電路檢測，檢測項目 輸入正向閩值電壓VIT+，輸入負向闌值電壓VIT-，帶后電壓△VT，檢測標準 半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理SJ/T10741-200，具有CMA，CNAS認證資質。
檢測流程
1、寄樣
2、初檢樣品
3、報價
4、雙方確定，簽訂保密協議，開始實驗。
5、結束實驗
6、郵寄檢測報告
檢測標準
半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-20005.4
半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.5
半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.6
半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.7
半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-20005.8
半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-20005.9
半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.10
半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.11
半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.12
半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.13
半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-20005.14
檢測項目
輸入正向閩值電壓VIT+，輸入負向闌值電壓VIT-，帶后電壓△VT，輸出高電平電壓VOH，輸出低電平電壓VOL，輸入高電平電流IIH，輸入低電平電流IL，輸出高電平電流IOH，輸出低電平電流IOL，輸出高阻態時高電平電流IOZH，輸出高阻態時低電平電流IOZL
檢測周期：7-15個工作日，試驗可加急
